Article
  • A study on the Photodegradability of Styrenic Polymer Blends
  • Kim JH
  • 스티렌계 고분자 블렌드의 광분해성에 관한 연구
  • 김정호
Abstract
In the present research, a study was made on the photodegradability of blends of polystyrene (PS) or styrene acrylonitrile copolymers (SAN) with photodegradable polymers having vinyl ketone group at the side chain Styrene methyl vinyl ketone copolymer (SMVK) was selected as a photodegradable polymer with vinyl ketone group at the side chain. SMVK was synthesized by solution polymerization technique and blended with PS or SAN. These blends were then exposed to u.v. irradiation at various lengths of time, during which the variation of viscosity was tested to investigate the effect of the addition of SMVK to the blends on the photodegradability of PS or SAN as a funtion of time. It was turned out that the photodegradability of styrenic polymers increased by the addition of SMVK. While photodegradability of PS highly increased, that of SAN increased only slightly. As the AN content in SAN blends increased, the effect of SMVK on the photodegradability of the blends became lower. The photodegradability of these styrenlc blends with SMVK was considered to be affected by such factors as miscibility among components and photodegradability of components themselves. The above results were comfirmed by analyzing the viscosity, DSC, and FTIR data.

본 연구에서는 비닐케톤기를 측쇄에 가지는 광분해성 고분자와 폴리스티렌, 스티렌 아크릴로 니트릴 공중합체 등의 스티렌계 수지와의 블렌드를 제조하고 이 블렌드에 자외선이 조사되었을 경우의 광분해성에 대해 연구하였다. 비닐케톤기를 측쇄에 가지는 광분해성 고분자로 스티렌-메틸비닐케톤(SMVK) 공중합체가 합성되었고 이것이 폴리스티렌(PS) 및 두가지의 AN조성을 가진 스티렌 아크릴로 니트릴 공중합체(SAN)와 블렌드된 후 이 블렌드에 대해서 점도 측정에 의해 광분해 정도가 조사되었다. 광분해성 SMVK가 스티렌계 수지에 첨가됨에 따라 광분해성이 증가되었는데 PS에 SMVK 첨가시는 광분해성이 큰 폭으로 증진되었으나 SAN과 SMYK의 블렌드시에는 PS의 경우와 비교하여 광분해성이 상대적으로 적게 증가하였다. 특히 SAN의 경우 AN의 함량이 증가할수록 SMVK와의 블렌드에 의한 광분해성의 증진 효과가 작았다. 이러한 블렌드의 광분해성은 DSC분석, FTIR분석 등에 의해 조성간의 상용성과 함께 각 블렌드 성분 자체의 광분해성이 주요한 요인으로 작용하는 것으로 관찰되었다.

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    ISSN 0379-153X(Print)
    ISSN 2234-8077(Online)
    Abbr. Polym. Korea
  • 2023 Impact Factor : 0.4
  • Indexed in SCIE

This Article

  • 1997; 21(6): 1006-1013

    Published online Nov 25, 1997