Electron microscopy for multiphase polymer morphology is still exposed to some limitation both in disclosing morphological details and in specimen preparation. For TEM technique, the internal structure in such specific areas as those of fractured, crazed, oriented, distorted parts of bulk specimen are hardly focused because of the specimen being sectioned. Low Tg materials like multiphase elastomers should be cryogenized before being sectioned. For SEM application, over and/or under-etched specimen might give rise to morphological errata and artifacts. In this paper, a new methodology is proposed to overcome the problems mentioned above using the composition image formed by backscattered electron signals.

EM을 이용하여 multi-phase polymer system의 morphology study를 위한 관찰 방법으로 종래의 TEM image에 의한 관찰은 hardening이 어려운 물질 및 물질의 특정부위에 대한 관찰이 어려울 뿐만 아니라 시편준비 과정에 많은 시간과 노력이 소요되었다. 또한 SEM image의 관찰 역시 internal structure에 관한 정보를 얻을 수 없고 etching 및 coating에 따르는 여러 가지 문제점 등 많은 어려움이 있었다. 이에 대해 O_sO₄ staining만을 행한 HIPS와 ABS의 bulk specimen을 EM에서 backscattered electron에 의해 형성되는 composition image를 이용하여 관찰하였다. 그 결과, TEM과 SEM에서 관찰되는 결과는 물론, 종래의 관찰 방법에서의 문제점 및 관찰의 한계점을 해결함과 동시에 노력을 절약할 수 있었다.

Keywords: