Article
  • Membrane Fouling in Microfiltration Process and Its Control by Surface Modification of Membrane
  • Cho DL, Lee J
  • 정밀여과 공정에서의 파울링 현상 및 분리막 표면개질을 이용한 제어
  • 조동련, 이진
Abstract
Membrane fouling phenomena occurring during microfiltration were studied for a nylon membrane with yeast (Saccharomyces cerevisiae) suspension as a model system. Yeast was adsorbed on various adsorbents (nylon film, nylon membrane, modified nylon film, and modified nylon membrane) for the examination of the effect of surface characteristics of a membrane on the interactions of yeast particles with membrane surface in the initial stage of fouling. The adsorption was mainly influenced by the hydrophilicity and the electrostatic charge of the adsorbent surface. The least amount of adsorption was observed on the modified adsorbents which have hydrophilic and negatively changed surface via oxygen or acrylic acid plasma treatment. As a consequence, the fouling could be reduced to a large extent by modifying the nylon membrane by oxygen or acrylic acid plasma treatment. Those plasma treatments modified not only the outer surface of the membrane but also the inner surface of membrane pores, which was tested with casein solution.

나일론 분리막과 효모 현탁액을 모델 시스템으로 하여 정밀여과 공정시 일어나는 파울렁 현상에 대하여 살펴보았다. 효모를 나일론 필름, 나일론 분리막, 개질된 나일론 필름, 개질된 나일론 분리막 등 여러 종류의 피흡착제에 흡착시킴으로써 파울링의 초기단계에서 분리막의 표면특성이 효모 입자들과 분리막 표면간의 상호작용에 미치는 영향을 살펴보았다. 효모의 흡착은 주로 피흡착제 표면의 친수성과 전기적 특성에 영향을 받았으며, 피흡착제를 산소 및 아크릴 산 플라스마를 이용하여 전기적으로 음성을 띈 친수성 표면을 갖도록 개질시켰을 때 가장 적은 흡착량을 보였다. 이에 따라, 파울링도 분리막을 산소 및 아크릴 산 플라스마로 개질시킴으로써 크게 줄일 수 있었다. 카세인 용액으로 시험한 결과, 이러한 플라스마들을 이용하면 분리막의 외부 표면뿐만 아니라 분리막 구멍들의 내부 표면까지도 개질시킬 수 있음을 알 수 있었다.

Keywords: fouling; microfiltration; membrane; yeast; surface modification; low temperature plasma

  • Polymer(Korea) 폴리머
  • Frequency : Bimonthly(odd)
    ISSN 0379-153X(Print)
    ISSN 2234-8077(Online)
    Abbr. Polym. Korea
  • 2023 Impact Factor : 0.4
  • Indexed in SCIE

This Article

  • 1997; 21(1): 142-153

    Published online Jan 25, 1997

  • 10.7317/pk.
  • Received on Nov 30, -0001
  • Revised on Nov 30, -0001
  • Accepted on Nov 30, -0001

Correspondence to

  • E-mail: